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北京大学医学出版社
- 9787565917875
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273923
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2018-05
内容简介
头影测量是正畸学临床证据的主要来源，它是综合运用放射解剖学、描图及数字化、计算机技术，描记颅颌面软硬组织的位置关系，从而为制定正畸计划提供依据。本书详细介绍了头影测量技术在正畸治疗中应用。本书第一版2011年出版后受到读者的欢迎。第2版增加了许多新的知识和技术、图片更加丰富，使本手册更加实用。
目录
第一章 头影测量的起源
第二章 当代X线头影测量学
第一节 常规和几何概念
第二节 放射解剖学
第三节 描图与数字化
第四节 常见的解剖关系
第五节 基本平面与基本直线
第六节 常见的修饰性与解剖性描图误差
第七节 如何画牙齿
第三章 头影测量分析
第一节 描述形态
第二节 制订治疗计划（TWeed，Steiner，Ricketts VTO等分析方法）
第三节 测量治疗前后变化（治疗、复发、正常生长等）
第四章 “草耙”分析法
第五章 模板分析
