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出版时间：2007-03-16

出版社：高等教育出版社

以下为《扫描电子显微学及在纳米技术中的应用（英文版）》的配套数字资源，这些资源在您购买图书后将免费附送给您：
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基本信息 评价
  • 高等教育出版社
  • 9787040190083
  • 1版
  • 227440
  • 46254443-8
  • 精装
  • 16开
  • 2007-03-16
  • 700
  • 468
  • 工学
  • 电子科学与技术
  • TN16；TB383
  • 材料类
  • 研究生及以上 继续教育（成教、自考等）
目录
  • Chapter 1 Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (Weilie Zhou, Robert P. Apkarian, Zhong Lin Wang, and David Joy)
    • 1.1　Introduction
    • 1.2　Configuration of scanning electron microscopes
    • 1.3　Specimen preparation
    • 1.4　Conclusion
    • References
  • Chapter 2 Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Technique and Materials Characterization Examples (Tim Maitland and Scott Sitzman)
    • 2.1　Introduction
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