目 录__eol__ __eol__第1章 概述 1__eol__1.1 引言 1__eol__1.2 光电检测系统的基本构成和工作__eol__原理 2__eol__1.2.1 光电检测系统的基本构成 2__eol__1.2.2 光电检测系统的基本工作原理 5__eol__1.2.3 光电检测系统的基本结构形式 6__eol__1.3 光电检测技术的发展 9__eol__习题与思考题 11__eol__第2章 光电检测光源 12__eol__2.1 光的产生及光源分类 12__eol__2.1.1 光的本质及产生 12__eol__2.1.2 光源分类 13__eol__2.2 光源的基本特性参数 13__eol__2.2.1 辐射效率和发光效率 14__eol__2.2.2 光谱功率分布 14__eol__2.2.3 空间光强分布 15__eol__2.2.4 光源的色温 15__eol__2.2.5 光源的颜色 16__eol__2.3 光电检测常用光源 16__eol__2.3.1 热辐射光源 16__eol__2.3.2 气体放电光源 18__eol__2.3.3 固体发光光源 19__eol__2.3.4 激光器 26__eol__习题与思考题 30__eol__第3章 光电检测中的光学变换 31__eol__3.1 光调制基本概念 31__eol__3.1.1 调制的基本概念 31__eol__3.1.2 光学调制的分类 31__eol__3.2 光信号调制方式 33__eol__3.2.1 振幅调制 33__eol__3.2.2 频率调制和相位调制 33__eol__3.2.3 强度调制 35__eol__3.2.4 脉冲调制 35__eol__3.2.5 脉冲编码调制 36__eol__3.3 光信号调制技术 36__eol__3.3.1 直接调制 37__eol__3.3.2 电光调制 39__eol__3.3.3 声光调制 42__eol__3.3.4 磁光调制 44__eol__3.3.5 光学调制盘 45__eol__3.3.6 光电编码器 50__eol__习题与思考题 54__eol__第4章 光电探测器及光电导探测器 56__eol__4.1 光探测器的物理基础 56__eol__4.1.1 光电效应和光热效应 57__eol__4.1.2 光电转换定律 58__eol__4.2 光电探测器的特性参数 58__eol__4.2.1 量子效率 58__eol__4.2.2 灵敏度 59__eol__4.2.3 响应时间 60__eol__4.2.4 噪声等效功率NEP和探测__eol__率D* 61__eol__4.2.5 线性度 62__eol__4.2.6 探测器噪声 62__eol__4.2.7 其他参数 65__eol__4.3 光电导探测器 65__eol__4.3.1 光电导效应 65__eol__4.3.2 光敏电阻 66__eol__习题与思考题 76__eol__第5章 光伏特探测器 78__eol__5.1 光伏特效应 78__eol__5.1.1 无光照PN电流方程 78__eol__5.1.2 光照PN时电流方程 79__eol__5.2 光伏探测器的工作模式 80__eol__5.3 光电池 81__eol__5.3.1 硅光电池的基本结构和工作__eol__原理 82__eol__5.3.2 硅光电池的特性参数 83__eol__5.3.3 光电池偏置电路 86__eol__5.3.4 光电池的应用 90__eol__5.4 硅光电二极管和硅光电三极管 90__eol__5.4.1 硅光电二极管结构及工作__eol__原理 90__eol__5.4.2 硅光电三极管结构及工作__eol__原理 91__eol__5.4.3 硅光电二极管与硅光电三__eol__极管特性比较 93__eol__5.4.4 光电二极管和三极管的偏置__eol__电路 96__eol__5.4.5 光电二极管和三极管的应用 101__eol__习题与思考题 108__eol__第6章 光电发射器件 109__eol__6.1 光电发射（外光电）效应 109__eol__6.2 光电管 110__eol__6.3 光电倍增管 111__eol__6.3.1 光电倍增管的结构 111__eol__6.3.2 光电倍增管的主要特性参数 112__eol__6.3.3 光电倍增管的供电和信号__eol__输出电路 116__eol__6.3.4 微通道板光电倍增管 119__eol__6.3.5 光电倍增管的应用 119__eol__6.4 各种光电探测器件的性能比较__eol__和应用选择 120__eol__6.4.1 接收光信号的方式 120__eol__6.4.2 各种光电探测器件的性能__eol__比较 121__eol__6.4.3 光电检测器件的应用选择 122__eol__习题与思考题 123__eol__第7章 光电成像器件 124__eol__7.1 光电成像器件概述 124__eol__7.1.1 光电成像器件的类型 124__eol__7.1.2 光电成像器件的基本特性 125__eol__7.2 真空摄像管 128__eol__7.2.1 成像原理 128__eol__7.2.2 摄像管的性能参数 129__eol__7.2.3 光电导式摄像管 131__eol__7.2.4 光电发射式摄像管 134__eol__7.3 电荷耦合器件（CCD） 135__eol__7.3.1 电荷耦合器件工作原理 135__eol__7.3.2 电荷耦合器件的物理性能__eol__参数 140__eol__7.3.3 电荷耦合摄像器件 141__eol__7.3.4 增强型电荷耦合器件 145__eol__7.4 自扫描光电二极管阵列 148__eol__7.4.1 SSPD线阵列 148__eol__7.4.2 SSPD面阵列 153__eol__7.5 CMOS摄像器件 155__eol__7.5.1 结构与工作原理 155__eol__7.5.2 固定图像噪声（FPN）消除__eol__电路 158__eol__7.5.3 CMOS图像传感器的主要__eol__特性 159__eol__7.5.4 CMOS图像传感器的应用 160__eol__7.6 红外焦平面阵列探测器 162__eol__7.6.1 红外焦平面阵列的工作原理__eol__和结构 162__eol__7.6.2 z平面红外焦平面探测器 165__eol__7.6.3 非制冷红外焦平面阵列__eol__探测器 165__eol__习题与思考题 166__eol__第8章 光电检测常用电路 168__eol__8.1 前置放大器 168__eol__8.1.1 前置放大器设计的大致步骤 168__eol__8.1.2 放大器设计中频率及带宽的__eol__确定 169__eol__8.1.3 放大器设计中的其他考虑 170__eol__8.1.4 光电器件与集成运算放大器__eol__的连接 170__eol__8.2 解调电路 171__eol__8.2.1 调幅波的解调 172__eol__8.2.2 调频波的解调 174__eol__8.2.3 调相波的解调 180__eol__8.2.4 脉冲调制信号的解调 181__eol__8.3 细分及辨向电路 182__eol__8.3.1 细分概述 182__eol__8.3.2 电子学细分 183__eol__8.3.3 辨向电路 187__eol__8.4 视频信号的二值化处理 188__eol__8.4.1 微分法实现二值化处理方法 188__eol__8.4.2 用比较法硬件电路实现二__eol__值化方法 189__eol__习题与思考题 190__eol__第9章 非相干检测方法与系统 191__eol__9.1 光电信号变换及光电检测系统__eol__分类概述 191__eol__9.2 直接检测系统 192__eol__9.2.1 直接检测系统的基本原理 192__eol__9.2.2 直接检测系统的基本特性 193__eol__9.3 随时间变化的光电信号检测__eol__方法及系统 195__eol__9.3.1 幅值法 195__eol__9.3.2 频率法 200__eol__9.3.3 相位和时间测量法 202__eol__9.4 空间分布的光电信号检测方法__eol__与系统 204__eol__9.4.1 光学目标和空间定位 204__eol__9.4.2 几何中心检测法 204__eol__9.4.3 亮度中心检测法 208__eol__习题与思考题 216__eol__第10章 相干检测方法与系统 217__eol__10.1 相干检测的基本原理 217__eol__10.1.1 光学干涉和干涉测量 217__eol__10.1.2 干涉测量技术中的调制和__eol__解调 218__eol__10.2 基本干涉系统及应用 219__eol__10.2.1 典型的