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透射电子显微学（上册）

￥129.00定价

作者： [美]David B.Williams等著；李建奇等译

出版时间：2015-11

出版社：高等教育出版社

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基本信息评价

出版社：高等教育出版社
ISBN：9787040431506
版次：1版
图书编号：54984
本季征订号：46255024-5
装帧：精装
开本：16开
出版时间：2015-11
千字：750
页数：596
学科分类1：工学
学科分类2：材料科学与工程
适用专业：材料类
适用分级：本科研究生及以上

作者简介

David B. Williams分别于1970、1974、1974和2001年在剑桥大学获得学士、硕士、哲学博士和理学博士学位。1976年进入Lehigh大学， 1979年升为副教授，1983年成为教授。1980—1998年，负责电子光学实验室，并领导Lehigh大学的电子显微镜学院长达20多年。1992—2000年，为MS&E系的系主任。2000—2006年，为负责研究的副院长。2007年7月开始成为Alabama大学（Huntsville）的第5任校长。与他人合著或编辑了11本书和会议论文集，发表了220余篇期刊论文和200余篇摘要/会议论文，在28个国家的大学、学术会议和实验室共做了275个邀请报告。曾获得过美国电子显微学会的Burton奖章（1084年）、美国微束分析学会（MAS）的Heinrich奖章（1988年）、MAS总统科学奖（1997年），并且是第一个Duncumb奖获得者（2007年，以表彰他在显微分析中的杰出成就）。

C. Barry Carter分别于1970、1974和2001年在剑桥大学获得学士、硕士和理学博士学位，从帝国理工学院（伦敦）获得理科硕士（1971年）和DIC，以及从牛津大学获得哲学博士学位（1976年）。之后在牛津大学Peter Hirsch组做博士后。1977年到Cornell大学，最初做博士后，而后依次晋升为助理教授(1979年)、副教授(1983年)和教授（1988年），并负责电子显微镜设备（1987—1991）。2007年7月开始任Connecticu大学（Storrs）化学、材料与生物分子工程系系主任。与他人编著了2部图书以及6本会议文集，发表了275余篇期刊论文和400余篇摘要/会议论文。自1990年，在各大学、学术会议和实验室共做了120多个邀请报告。曾获得过Simon Guggenheim奖（1985—1986年）、Berndt Matthias学者奖（1997/1998年）和Alexander von Humboldt高级奖（1997年）。

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内容简介

本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了详细介绍。第二版已对第一版内容进行了修订和更新。解释了为什么需要用到这一特殊的技术以及如何将这一特定概念运用到实践中。全书共4篇，总计40章。第一篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念，包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能，以及透射电子显微镜样品的制备等。第二篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术，以及对电子衍射的理论描述。第三篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟。第四篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。全书有近700张图表，在英文版中全为彩图，而在中译本中大部分为黑白图，但并不影响所表达的意思。中译本将全书分成两册，即将英文版的第一篇和第二篇作为上册，将第三篇和第四篇作为下册。

本书可作为高等院校高年级本科生和研究生的教材，也可作为电子显微学分析等相关领域研究人员的参考用书。