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出版时间:2024-08

出版社:化学工业出版社

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  • 化学工业出版社
  • 9787122448514
  • 02
  • 528752
  • 16开
  • 2024-08
  • 433
  • 258
  • ①TN
作者简介
目录
第1章逻辑代数基础1
1.1模拟信号和数字信号2
1.1.1模拟信号和数字信号2
1.1.2模拟量的数字表示3
1.1.3数字电路的特点和分类4
1.2数制和码制4
1.2.1数制4
1.2.2码制11
1.3逻辑代数的基本运算14
1.3.1与运算(逻辑与)14
1.3.2或运算(逻辑或)15
1.3.3非运算(逻辑非)16
1.4逻辑代数的基本定律及规则18
1.4.1基本定律18
1.4.2常用公式19
1.4.3重要规则20
1.5逻辑函数及其表示方法22
1.5.1逻辑函数23
1.5.2逻辑函数的表示方法23
1.5.3逻辑函数的两种标准形式26
1.6逻辑函数的化简28
1.6.1逻辑函数的最简表达式29
1.6.2逻辑函数的公式法化简29
1.6.3逻辑函数的卡诺图化简法31
1.6.4具有无关项的逻辑函数及其化简36
1.7数字系统一般故障的检查和排除38
1.7.1直观检查法38
1.7.2测量电阻法38
1.7.3静态测量39
1.7.4动态测量39
本章小结39
本章关键术语40
自我测试题41
习题42

第2章逻辑门电路46
2.1基本逻辑门46
2.1.1与门47
2.1.2或门48
2.1.3与门和或门的实际应用49
2.1.4非门50
2.2复合逻辑门51
2.2.1与非门51
2.2.2或非门52
2.2.3异或门52
2.2.4同或门53
2.2.5与或非门54
2.2.6与非门和或非门的实际应用55
2.3特殊逻辑门55
2.3.1三态逻辑门55
2.3.2集电极开路逻辑门57
2.4集成逻辑门58
2.4.1数字集成电路分类59
2.4.2TTL集成电路逻辑门59
2.4.3CMOS集成电路逻辑门60
2.4.4集成电路逻辑门的性能参数60
2.4.5TTL与CMOS集成电路的接口63
2.4.6集成电路使用常识64
2.5故障诊断和排查65
2.5.1与门和或门的故障排查技术66
2.5.2与非门和或非门的故障排查技术67
本章小结68
本章关键术语68
自我测试题69
习题71
综合实训73

第3章组合逻辑电路75
3.1组合逻辑电路的特点和分类76
3.1.1组合逻辑电路的特点76
3.1.2组合逻辑电路的功能表示方法76
3.1.3组合逻辑电路的分类77
3.2组合逻辑电路的分析和设计77
3.2.1组合逻辑电路的分析77
3.2.2组合逻辑电路的设计79
3.3常用集成组合逻辑电路82
3.3.1加法器82
3.3.2数值比较器85
3.3.3编码器88
3.3.4译码器93
3.3.5数据选择器和分配器101
3.4组合逻辑电路中的竞争冒险现象106
3.4.1竞争冒险现象的产生原因106
3.4.2竞争冒险现象的判断方法107
3.4.3竞争冒险现象的消除方法108
3.5故障诊断和排查108
3.5.1电平恒定108
3.5.2加法器的故障排查技术108
3.5.3比较器的故障排查技术109
3.5.4编码器的故障排查技术109
3.5.5译码器的故障排查技术109
3.5.6数据选择器的故障排查技术109
本章小结110
本章关键术语110
自我测试题110
习题112
综合实训115

第4章触发器117
4.1基本触发器118
4.1.1用与非门组成的基本触发器118
4.1.2用或非门组成的基本触发器120
4.1.3基本RS触发器的特点及应用122
4.2同步触发器123
4.2.1同步RS触发器123
4.2.2同步D触发器125
4.2.3同步触发器的空翻问题126
4.3主从触发器126
4.3.1主从RS触发器126
4.3.2主从JK触发器128
4.4边沿触发器129
4.4.1边沿D触发器130
4.4.2边沿JK触发器131
4.4.3其他类型触发器132
4.5故障诊断和排查135
4.5.1基本RS触发器的故障排查技术135
4.5.2边沿JK触发器的故障排查技术136
本章小结136
本章关键术语136
自我测试题137
习题138
综合实训141

第5章时序逻辑电路143
5.1时序逻辑电路的特点和分类144
5.1.1时序逻辑电路的特点144
5.1.2时序逻辑电路功能表示方法144
5.1.3时序逻辑电路分类145
5.2时序逻辑电路的分析和设计145
5.2.1时序逻辑电路的分析146
5.2.2时序逻辑电路的设计150
5.3计数器152
5.3.1计数器的特点和分类152
5.3.2二进制计数器153
5.3.3十进制计数器158
5.3.4N进制计数器163
5.4寄存器167
5.4.1寄存器的主要特点和分类167
5.4.2基本寄存器168
5.4.3移位寄存器169
5.4.4移位寄存器型N进制计数器172
5.4.5顺序脉冲发生器174
5.5故障诊断和排查178
5.5.1集成计数器故障排查技术178
5.5.2级联的计数器故障排查技术178
5.5.3触发器构成的计数器故障排查技术178
本章小结179
本章关键术语180
自我测试题180
习题181
综合实训185

第6章脉冲发生与整形电路188
6.1脉冲信号基本参数188
6.2集成定时器189
6.2.1555定时器189
6.2.2脉冲产生整形电路191
6.3多谐振荡器191
6.3.1用555定时器构成的多谐振荡器191
6.3.2石英晶体多谐振荡器193
6.3.3多谐振荡器应用举例194
6.4施密特触发器196
6.4.1用555定时器构成的施密特触发器196
6.4.2集成施密特触发器198
6.4.3施密特触发器应用举例198
6.5单稳态触发器199
6.5.1用555定时器构成的单稳态触发器199
6.5.2集成单稳态触发器201
6.5.3单稳态触发器应用举例202
6.6故障诊断和排查203
6.6.1定时器的故障分析203
6.6.2脉冲发生电路的故障分析203
本章小结203
本章关键术语203
自我测试题204
习题205
综合实训207

第7章数模和模数转换器208
7.1数字系统的构成208
7.2数模转换器209
7.2.1数模转换器的工作原理209
7.2.2权电阻数模转换器210
7.2.3T型电阻网络数模转换器211
7.2.4集成数模转换器212
7.2.5数模转换器的主要参数214
7.3模数转换器215
7.3.1采样保持和量化编码215
7.3.2双积分型模数转换器216
7.3.3逐次逼近型模数转换器218
7.3.4并联比较型模数转换器220
7.3.5集成模数转换器221
7.3.6模数转换器的主要参数222
本章小结223
本章关键术语223
自我测试题223
习题224
综合实训226

第8章半导体存储器和可编程逻辑器件228
8.1半导体存储器228
8.1.1半导体存储器基本概念229
8.1.2半导体存储器分类229
8.2只读存储器(ROM)230
8.2.1只读存储器的结构和分类230
8.2.2只读存储器的应用232
8.3随机存取存储器(RAM)233
8.3.1随机存取存储器结构与分类233
8.3.2存储器容量的扩展235
8.4可编程逻辑器件(PLD)237
8.4.1PLD器件的分类237
8.4.2PLD电路的基本结构238
8.4.3可编程组合逻辑器件238
8.4.4PLD的设计流程240
本章小结242
本章关键术语242
自我测试题242
习题243
综合实训244

附录Multisim 简介247

部分习题参考答案254

参考文献258