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出版时间:2020-08-01

出版社:北京理工大学出版社

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  • 北京理工大学出版社
  • 9787568289467
  • 1
  • 382824
  • 平装
  • 小16开
  • 2020-08-01
  • 241
  • O43
作者简介
李林,男,1957年11月生,现为北京理工大学光电学院长聘教授,博士生导师,总装备部重大专项专家组成员,军委科技委重点项目专家组成员,战略支援部队航空专家组成员,全国高等学校光学教学研究会理事,中国照明学会理事,交通运输照明和光信号专业委员会副主任,中国宇航学会光电专委会委员,全国光学和光学仪器标准化技术委员会委员,中国兵工学会光学专委会委员,中国光学学会会员,SPIE会员,长春光机所《光学精密工程》编委。
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内容简介
本书系统地介绍了光学系统像质评价方法以及光学测量的主要知识。全书内容可以分为两个部分:第一部分是光学系统像质评价,介绍了光学系统的像质评价各种指标以及在光学设计软件Zemax中的具体应用;第二部分是光学测量,介绍了光学测量中的对准与调焦技术、焦距测量、星点检验、分辨率测量等基本光学测量技术,测角技术、准直自准直技术及干涉测量等内容。


本书是信息技术、光学工程、测控技术与仪器等专业本科生的专业课教材,也可作为相关专业研究生教材及从事光电仪器设计和研制的专业人员的参考书。