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集成电路芯片测试技术 / 高职高专电子信息类系列教材

定价：￥35.00

作者：居水荣

出版时间：2021-03

最新印次日期：2025-7

出版社：西安电子科技大学出版社

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基本信息评价

出版社：西安电子科技大学出版社
ISBN：9787560659541
版次：1-5
图书编号：375010
本季征订号：66224261-9
装帧：平装
开本：16开
出版时间：2021-03
千字：304
页数：208
职教专业大类：电子与信息大类
职教专业类：电子信息类
中图分类编号：TN407
适用专业：电子信息工程技术
适用分级：高职

内容简介

本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写的。本书详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合\时序逻辑电路测试、ADC\DAC芯片测试、存储器\微控制器测试、集成运放\电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，亦可作为全国职业院校技能大赛-集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。