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微电子技术的可靠性——互连器件及系统

￥95.00定价

作者： Johan Liu等著；郭福，马立民译

出版时间：2021-04

出版社：科学出版社

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基本信息评价

出版社：科学出版社
ISBN：9787030376060
版次：31
图书编号：473809
装帧：平装胶订
开本：B5
出版时间：2021-04
页数：196
中图分类编号：TN4

内容简介

本书详尽地介绍了电子互连系统中可靠性的诸多基础科学问题及测试和解决方案，涉及的概念、模型、方法等的阐述清晰易懂，并附有习题帮助读者深入思考和理解相关的理论基础。书中首先描述了微电子技术可靠性问题的重要性和定义，然后分别从经验模型、物理模型以及失效的一般机制讨论了系统失效的方式和测试方法，之后又分别从可靠性设计、元件和系统级可靠性的角度阐述了能够影响微系统互连失效的相关因素，最后以质量管理为立足点介绍了保障高可靠性产品所涉及的基本环节。