- 科学出版社
- 9787030809469
- 1版
- B5
- 2026-05
作者简介
内容简介
本书系统地介绍作者独创的短波长特征X射线衍射基本原理和无损检测晶体内部衍射信息等主要应用，除绪论外，主要包括三部分，共11章。在第一部分（共2章）X射线衍射基础中，概述X射线物理学基础、晶体的X射线衍射基础等；在第二部分（共3章）短波长特征X射线衍射基础、仪器及实验技术中，详述短波长特征X射线衍射原理、织构/取向材料的极密度极大值法等实验分析方法，并简介SWXRD-1000型短波长X射线衍射仪；在第三部分（共6章）晶体材料/工件内部的短波长特征X射线衍射分析应用中，详述无损检测分析单晶/多晶材料工件内部残余应力、织构/取向、物相等的工程应用实例。本书的结束语总结了几种现有晶体衍射技术的特点，并分析目前短波长特征X射线衍射存在的不足，指出今后的发展方向。
