集成电路测试技术（含实训任务单） / 高等职业教育集成电路类专业新形态教材
定价：￥69.00
作者： 林洁
出版时间：2025-08-05
出版社：机械工业出版社
- 机械工业出版社
- 9787111783022
- 1-1
- 558605
- 平装
- 2025-08-05
- 398
- 高职
内容简介
本书基于职业岗位能力要求，立足新时代“中国芯”发展的战略需求，精心设计了6个项目，由浅入深、系统全面地介绍集成电路测试相关知识与技能。从搭建集成电路测试环境，到数字芯片和模拟芯片的典型参数测试，再到功能测试和综合电路测试，全方位训练学生的集成电路测试综合技能。在每个项目中都引导学生传承工匠精神，将个人理想与民族复兴结合起来，立志肩负时代重任。
本书在编写过程中，注重理论与实践相结合，强调学以致用、知行合一。每个项目都提供了详实的背景资料、详细的操作步骤和大量案例，引导学生从“要我学”变为“我要学”，带着问题学，及时巩固练习。同时，每个项目后还专门设置了拓展知识，进一步拓宽专业视野，为后续学习预留空间。
本书可作为职业本科、高职高专院校电子信息类相关专业的教材，尤其适合电子制造技术、集成电路等专业，也可供从事集成电路测试工作和对此感兴趣的工程技术人员参考。
本书在编写过程中，注重理论与实践相结合，强调学以致用、知行合一。每个项目都提供了详实的背景资料、详细的操作步骤和大量案例，引导学生从“要我学”变为“我要学”，带着问题学，及时巩固练习。同时，每个项目后还专门设置了拓展知识，进一步拓宽专业视野，为后续学习预留空间。
本书可作为职业本科、高职高专院校电子信息类相关专业的教材，尤其适合电子制造技术、集成电路等专业，也可供从事集成电路测试工作和对此感兴趣的工程技术人员参考。
目录
前言
项目1搭建集成电路测试环境项目导读
1.1知识储备：初识集成电路测试
1.1.1集成电路测试分类
1.1.2FT原理及流程
1.1.3FT常用设备
1.2创建第一个集成电路测试工程文件
1.2.1CD4511芯片测试任务描述
1.2.2CD4511数据手册阅读
1.2.3认识集成电路测试系统
1.2.4创建集成电路测试工程文件
1.2.5测试程序编写说明
1.3创建集成电路测试工程文件常见错误
1.4练一练
1.5拓展知识
1.5.1测试机编程手册
1.5.2测试机使用注意事项
项目2数字芯片典型参数测试项目导读
2.1知识储备：数字芯片典型参数测试原理及测试工装
2.1.1开/短路测试原理
2.1.2漏电流测试原理
2.1.3输出电平测试原理
2.1.4电源供电电流测试原理
2.1.5数字芯片参数测试工装
2.2对地开/短路测试
2.2.1对地开/短路测试任务描述
2.2.2对地开/短路测试任务实施
2.3对电源开/短路测试
2.3.1对电源开/短路测试任务描述
2.3.2对电源开/短路测试任务实施
2.4输入高电平漏电流测试
2.4.1输入高电平漏电流测试任务描述
2.4.2输入高电平漏电流测试任务实施
2.5输入低电平漏电流测试
2.5.1输入低电平漏电流测试任务描述
2.5.2输入低电平漏电流测试任务实施
2.6输出高电平测试
2.6.1输出高电平测试任务描述
2.6.2输出高电平测试任务实施
2.7输出低电平测试
2.7.1输出低电平测试任务描述
2.7.2输出低电平测试任务实施
2.8电源供电电流测试
2.8.1电源供电电流测试任务描述
2.8.2电源供电电流测试任务实施
2.9参数测试常见错误
2.10练一练
2.11拓展知识
2.11.1职业规范概述
2.11.28S管理方式
2.11.3“8个为零”的8S管理成效
项目3典型数字芯片功能测试项目导读
3.1知识储备：关键器件及芯片简介
3.1.1数码管简介
3.1.274LS48芯片简介
3.1.374HC157芯片简介
3.1.474HC393芯片简介
3.1.574HC283芯片简介
3.274LS48芯片功能测试
3.2.174LS48芯片功能测试任务描述
3.2.274LS48芯片功能测试任务实施
3.374HC157芯片功能测试
3.3.174HC157芯片功能测试任务描述
3.3.274HC157芯片功能测试任务实施
3.474HC393芯片功能测试
3.4.174HC393芯片功能测试任务描述
3.4.274HC393芯片功能测试任务实施
3.574HC283芯片功能测试
3.5.174HC283芯片功能测试任务描述
3.5.274HC283芯片功能测试任务实施
3.6典型数字芯片功能测试常见错误
3.7练一练
3.8拓展知识——两位数码管显示驱动
项目4模拟芯片典型参数测试项目导读
4.1知识储备：模拟芯片典型参数测试原理
4.1.1输入失调电压测试原理
4.1.2输出短路电流测试原理
4.1.3共模抑制比测试原理
4.1.4开环增益测试原理
4.1.5关键模拟芯片简介
4.2输入失调电压测试
4.2.1输入失调电压测试任务描述
4.2.2输入失调电压测试任务实施
4.3输出短路电流测试
4.3.1输出短路电流测试任务描述
4.3.2输出短路电流测试任务实施
4.4共模抑制比测试
4.4.1共模抑制比测试任务描述
4.4.2共模抑制比测试任务实施
4.5开环增益测试
4.5.1开环增益测试任务描述
4.5.2开环增益测试任务实施
4.6模拟芯片典型参数测试常见错误4.7练一练
4.8拓展知识——线性稳压器测试
4.8.1测试工装准备
4.8.2LD1117芯片输出电压测试
4.8.3LD1117芯片负载调整率测试
项目5运放典型功能测试项目导读
5.1知识储备：运放典型功能测试原理
5.1.1同相比例放大电路测试原理
5.1.2反相比例放大电路测试原理
5.1.3加法运算电路测试原理
5.2同相比例放大电路测试
5.2.1同相比例放大电路测试任务描述
5.2.2同相比例放大电路测试任务实施
5.3反相比例放大电路测试
5.3.1反相比例放大电路测试任务描述
5.3.2反相比例放大电路测试任务实施
5.4加法运算电路测试
5.4.1加法运算电路测试任务描述
5.4.2加法运算放大电路测试任务实施
5.5LM358功能测试常见错误
5.6练一练
5.7拓展知识——加法运算电路交流输入测试
项目6综合电路测试项目导读
6.1知识储备：识读综合电路
6.2电压调档显示综合练习板测试
6.2.1电压调档显示综合练习板测试任务描述
6.2.2电压调档显示综合练习板测试任务实施
6.3电压采集显示电路测试
6.3.1电压采集显示电路测试任务描述
6.3.2电压采集显示电路测试任务实施
6.4练一练
6.5拓展知识——LK8300测试系统
参考文献
项目1搭建集成电路测试环境项目导读
1.1知识储备：初识集成电路测试
1.1.1集成电路测试分类
1.1.2FT原理及流程
1.1.3FT常用设备
1.2创建第一个集成电路测试工程文件
1.2.1CD4511芯片测试任务描述
1.2.2CD4511数据手册阅读
1.2.3认识集成电路测试系统
1.2.4创建集成电路测试工程文件
1.2.5测试程序编写说明
1.3创建集成电路测试工程文件常见错误
1.4练一练
1.5拓展知识
1.5.1测试机编程手册
1.5.2测试机使用注意事项
项目2数字芯片典型参数测试项目导读
2.1知识储备：数字芯片典型参数测试原理及测试工装
2.1.1开/短路测试原理
2.1.2漏电流测试原理
2.1.3输出电平测试原理
2.1.4电源供电电流测试原理
2.1.5数字芯片参数测试工装
2.2对地开/短路测试
2.2.1对地开/短路测试任务描述
2.2.2对地开/短路测试任务实施
2.3对电源开/短路测试
2.3.1对电源开/短路测试任务描述
2.3.2对电源开/短路测试任务实施
2.4输入高电平漏电流测试
2.4.1输入高电平漏电流测试任务描述
2.4.2输入高电平漏电流测试任务实施
2.5输入低电平漏电流测试
2.5.1输入低电平漏电流测试任务描述
2.5.2输入低电平漏电流测试任务实施
2.6输出高电平测试
2.6.1输出高电平测试任务描述
2.6.2输出高电平测试任务实施
2.7输出低电平测试
2.7.1输出低电平测试任务描述
2.7.2输出低电平测试任务实施
2.8电源供电电流测试
2.8.1电源供电电流测试任务描述
2.8.2电源供电电流测试任务实施
2.9参数测试常见错误
2.10练一练
2.11拓展知识
2.11.1职业规范概述
2.11.28S管理方式
2.11.3“8个为零”的8S管理成效
项目3典型数字芯片功能测试项目导读
3.1知识储备：关键器件及芯片简介
3.1.1数码管简介
3.1.274LS48芯片简介
3.1.374HC157芯片简介
3.1.474HC393芯片简介
3.1.574HC283芯片简介
3.274LS48芯片功能测试
3.2.174LS48芯片功能测试任务描述
3.2.274LS48芯片功能测试任务实施
3.374HC157芯片功能测试
3.3.174HC157芯片功能测试任务描述
3.3.274HC157芯片功能测试任务实施
3.474HC393芯片功能测试
3.4.174HC393芯片功能测试任务描述
3.4.274HC393芯片功能测试任务实施
3.574HC283芯片功能测试
3.5.174HC283芯片功能测试任务描述
3.5.274HC283芯片功能测试任务实施
3.6典型数字芯片功能测试常见错误
3.7练一练
3.8拓展知识——两位数码管显示驱动
项目4模拟芯片典型参数测试项目导读
4.1知识储备：模拟芯片典型参数测试原理
4.1.1输入失调电压测试原理
4.1.2输出短路电流测试原理
4.1.3共模抑制比测试原理
4.1.4开环增益测试原理
4.1.5关键模拟芯片简介
4.2输入失调电压测试
4.2.1输入失调电压测试任务描述
4.2.2输入失调电压测试任务实施
4.3输出短路电流测试
4.3.1输出短路电流测试任务描述
4.3.2输出短路电流测试任务实施
4.4共模抑制比测试
4.4.1共模抑制比测试任务描述
4.4.2共模抑制比测试任务实施
4.5开环增益测试
4.5.1开环增益测试任务描述
4.5.2开环增益测试任务实施
4.6模拟芯片典型参数测试常见错误4.7练一练
4.8拓展知识——线性稳压器测试
4.8.1测试工装准备
4.8.2LD1117芯片输出电压测试
4.8.3LD1117芯片负载调整率测试
项目5运放典型功能测试项目导读
5.1知识储备：运放典型功能测试原理
5.1.1同相比例放大电路测试原理
5.1.2反相比例放大电路测试原理
5.1.3加法运算电路测试原理
5.2同相比例放大电路测试
5.2.1同相比例放大电路测试任务描述
5.2.2同相比例放大电路测试任务实施
5.3反相比例放大电路测试
5.3.1反相比例放大电路测试任务描述
5.3.2反相比例放大电路测试任务实施
5.4加法运算电路测试
5.4.1加法运算电路测试任务描述
5.4.2加法运算放大电路测试任务实施
5.5LM358功能测试常见错误
5.6练一练
5.7拓展知识——加法运算电路交流输入测试
项目6综合电路测试项目导读
6.1知识储备：识读综合电路
6.2电压调档显示综合练习板测试
6.2.1电压调档显示综合练习板测试任务描述
6.2.2电压调档显示综合练习板测试任务实施
6.3电压采集显示电路测试
6.3.1电压采集显示电路测试任务描述
6.3.2电压采集显示电路测试任务实施
6.4练一练
6.5拓展知识——LK8300测试系统
参考文献
